可控(kòng)矽測(cè)試(shì)儀是晶閘管觸發電壓VGT，觸(chù)發(fā)電(diàn)流(liú)IGT和維(wéi)持電流IH三項參(cān)數(shù)的(dí)測試設備。適用於各種(zhǒng)反向阻斷(duàn)晶閘(zhá)管(guǎn)，逆(nì)導(dǎo)晶閘管(guǎn)及雙向(xiàng)晶(jīng)閘(zhá)管的參(cān)數測試。本測試儀(yí)設(shè)計(jì)先(xiān)進，結(jié)構(gòu)合理，操作簡便(biàn)。並(bìng)具有數(shù)字(zì)顯示(shì)，自(zì)動測(cè)試(shì)等功能。其技術(shù)指(zhǐ)標符(fú)合GB4024-83標準(zhǔn)的規(guī)定，是電力半(bàn)導體器件生產(chǎn)廠和使用(yòng)單位zui為(wéi)理(lǐ)想(xiǎng)的(dí)檢測(cè)設備。
可控(kòng)矽測試儀(yí)主要(yào)用(yòng)於可控(kòng)矽使用(yòng)廠家(jiā)對可控矽(guī)元(yuán)件的質量檢驗(yàn)，參(cān)數的配對(duì)，可(kě)控(kòng)矽設備的(dí)維(wéi)修(xiū)之(zhī)用。可控(kòng)矽測(cè)試儀還可以(yǐ)廣泛(fàn)的(dí)應用於(yú)對多(duō)種電子元(yuán)器(qì)件(jiàn)的(dí)高低壓耐壓的(dí)測(cè)試。儀器(qì)外(wài)型(xíng)美觀，性能(néng)穩定，測量準確(què)，使(shǐ)用(yòng)安(ān)全方(fāng)便。
可控(kòng)矽測試儀產(chǎn)品(pǐn)介紹：
１，它(tā)可以測(cè)量小(xiǎo)至TO-92封(fēng)裝(zhuāng)大至(zhì)TO-3P封裝的(dí)各種(zhǒng)電流(liú)等級的塑封單，雙向(xiàng)可(kě)控矽(guī)（晶(jīng)閘管）。
２，專(zhuān)門設計了0-1O00uA的(dí)觸(chù)發(fā)電流量(liáng)程，可以直(zhí)接(jiē)測量(liáng)MCR100-6等微(wēi)安(ān)級觸發電流(liú)的(dí)可控(kòng)矽(guī)。
３，可以測量DIP-6，DIP-4封裝(zhuāng)的過零和(hé)非過零檢測(cè)可控(kòng)矽輸(shū)出的光電(diàn)耦合(hé)器(qì)和(hé)DIP-6封(fēng)裝的單(dān)向可(kě)控(kòng)矽(guī)輸出的(dí)光電(diàn)耦(ǒu)合(hé)器(qì)。
４，可以測(cè)量(liáng)200A以下(xià)的(dí)螺(luó)銓型單(dān)，雙向可控矽(guī)和可(kě)控(kòng)矽組合模塊(kuài)。
５，測試觸發電(diàn)流(liú)和觸(chù)發(fā)電(diàn)壓(yā)時無需(xū)人工調節(jié)，可控(kòng)矽(guī)插(chā)入(rù)測試座(zuò)後(hòu)儀(yí)器(qì)會自(zì)動的(dí)調節(jié)至觸發值，並(bìng)穩定(dìng)的顯示觸發電(diàn)流(liú)IGT/觸發(fā)電壓(yā)VGT。
６，測(cè)試(shì)可控矽(guī)耐壓參(cān)數時隻需(xū)一次性調節好(hǎo)zui高輸出電壓(yā)值，以(yǐ)後每測一(yī)個管子隻要按下高壓按鈕(niǔ)即可(kě)顯示該(gāi)可控矽的耐壓值。
服(fú)務熱(rè)綫： 
產(chǎn)品(pǐn)分(fēn)類
更(gēng)新時(shí)間：2018-03-28 
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